本公开实施例公开了一种涂层厚度检测系统及方法。其中,涂层厚度检测系统,包括:恒温腔体、移动机构和测量机构;移动机构和测量机构设置在恒温腔体内;测量机构设置在移动机构上,测量机构在移动机构的带动下在恒温腔体内移动,测量机构对被测量物的涂层厚度进行测量,测量机构基于光热法对涂层厚度进行测量。光热法没有辐射,实现对人体无辐射损伤危害,不用接触被测量物,实现对被测量涂层厚度的非接触无损伤测量,受被测量涂层的平面和基材影响较小,可实现在曲面、粗糙的表面和不同厚度的基材上测量,受系统的振动幅度、被测距离控制精度和测量角度精度的影响较小,能够有效减少外界因素对测量的影响。
声明:
“涂层厚度检测系统及方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)