本发明公开了一种基于光谱技术玉米霉变的快速检测方法及方法,所述方法包括以下步骤:准备霉变玉米和未霉变玉米;利用地物光谱仪分别采集霉变玉米和未霉变玉米的光谱数据,并进行特征分析;根据波段400nm、700nm对应的光谱反射率分别计算霉变玉米和未霉变玉米的玉米霉变指数;统计分析霉变玉米和完好玉米的霉变指数值的变化范围,并依据实际情况确定霉变与未霉变玉米分界值;基于所述霉变与未霉变玉米分界值,判断待测玉米是否霉变。本发明提供的基于光谱技术玉米霉变的快速检测方法,方法简单,操作方便,可实现快速、无损、实时玉米霉变的检测,为提高玉米存储质量提供基础技术支持。
声明:
“基于光谱技术玉米霉变的快速检测方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)