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基于太赫兹检测的绝缘材料评估方法

773   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:58:18
本申请提供一种基于太赫兹检测的绝缘材料评估方法,获取待测绝缘材料的时域光谱曲线和待测特征峰值;调取所述被检测绝缘材料的正常时域光谱曲线图和正常特征峰值;通过待测特征峰值与正常特征峰值之差获得特征峰值偏离值;在所述特征峰值偏离大于正常特征峰值的百分之十时,获取多个角度成像的静态图像并得到灰度值分布;随机选取多个微小区域,以及每个所述区域的灰度平均值;计算多个灰度平均值的平均值和方差;若方差大于等于预设值时,待测绝缘材料已发生区域老化;若方差小于所述预设值时,待测绝缘材料整体老化;通过绝缘材料的太赫兹图像和时域光谱,判定绝缘材料的老化区域,是局部还是整体老化,无需破坏材料本体的一种无损检测方法。
声明:
“基于太赫兹检测的绝缘材料评估方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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