本发明公开了一种基于同轴双圆锥透镜的暗场共焦亚表面检测装置和方法,点光源发出的光经准直镜形成平行光,平行光依次经扩束器、圆锥透镜一和圆锥透镜二形成环形光,环形光经分光棱镜和物镜汇聚至待测样品;待测样品发出的反射光和散射光依次经过物镜和分光棱镜,入射至探测互补光阑,反射光被探测互补光阑遮挡,散射光依次经过探测互补光阑、收集透镜和探测针孔,入射至光电探测器。本发明采用扩束器以及一组对称放置的同轴圆锥透镜实现占空比可调的环形光照明,结合探测互补光阑实现暗场共焦,解决了普通共焦显微技术检测亚表面损伤信噪比低、遮挡式环形光发生器占空比不可调、能量损失大的问题,适用于亚表面无损检测。
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