本发明属于无损检测技术领域,具体为一种基于改进的动态深度聚焦的相控阵超声检测方法,该方法包括相控阵超声发射和接收步骤、缺陷判别步骤、延迟时间计算步骤、回波信号后处理步骤以及B型图重构步骤共五个步骤。本发明将超声回波信号准确聚焦到缺陷位置,可以解决当缺陷反射回波信号的信噪比过低时所造成的缺陷识别困难的问题;本发明可以有效解决由于被检工件的材料不均匀导致理想焦点与实际焦点存在偏差的问题,对于分层介质和各向异性介质的相控阵超声检测,可以有效提高检测分辨率;本发明还可以减少相控阵探伤仪等硬件系统误差所引起的超声成像结果模糊、畸变问题,提高相控阵超声成像质量。
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