本发明涉及一种硬脆光学材料的低亚表面损伤检测方法,该方法通过测试仪器准备、样品表面损伤的检测来获得待测样品的布儒斯特角,并进一步利用该布儒斯特角表征样品的表界面粗糙度。其中,测试仪器包括刻度盘、载物台、激光器、第一偏振片、光强度计及第二偏振片,结构简单、成本低,利用线偏振光准确地测出了入射到样品上的光线的布儒斯特角大小,并以此表征样品的表界面粗糙度,可将测量偏差保持在1/100以内,检测结果准确率高,且检测方法简单、快速,对待检测样品的表面无损伤;同时,本发明的方法还可以用于测量光学元件其他的微表面结构,并能达到纳米量级的表面微结构的检测,为制备出高质量的高损伤阈值薄膜提供了条件。
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