合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 无损检测技术

> 基于Burg算法的自回归谱外推技术提高TOFD检测纵向分辨率的方法

基于Burg算法的自回归谱外推技术提高TOFD检测纵向分辨率的方法

1089   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:58:11
一种基于Burg算法的自回归谱外推技术提高TOFD检测纵向分辨率的方法,属于超声无损检测技术领域。该方法采用一套TOFD超声检测仪、TOFD探头、扫查装置、集成TOFD常规分析功能的软件以及计算机构成的超声检测系统。针对缺陷进行TOFD扫查,对采集到的包含缺陷上下端衍射波的时域混叠信号进行自回归谱外推处理。以参考信号的-6dB频带宽度为基准,选取该频带范围内的缺陷信号,并利用Burg算法估计该频带范围外的缺陷信号,从而拓宽频带宽度,提高缺陷检测的纵向分辨率,实现缺陷高度定量。与其它提高TOFD检测纵向分辨率的方法相比,该方法对硬件系统无额外要求,且不受检测探头激励脉冲时间宽度的限制,具有较好的工程应用价值。
声明:
“基于Burg算法的自回归谱外推技术提高TOFD检测纵向分辨率的方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
无损检测
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

第二届关键基础材料模拟、制备与评价技术交流会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记