本发明公开了一种基于透过率的在线检测CdS薄膜厚度的系统,包括:单色光源发生器、光强检测系统、若干传感器、控制器及能将透过率数据转换为膜厚数据的计算机;传感器用于检测CdS薄膜的位置,并将检测发送信号发送给控制器;控制器接收到传感器信号后,控制单色光源发生器及光强检测系统工作;单色光源发生器及光强检测系统用于在线检测CdS薄膜的透过率;光强检测系统将检测数据传输至计算机,获得膜厚数据。本发明采用CdS薄膜吸收敏感波段,检测分辨率能够达到纳米级别。此外,该系统还具有无损、检测速度快等特征,能够嵌入生产线。
声明:
“基于透过率的在线检测CdS薄膜厚度的系统” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)