一种粗晶材料超声检测的时频分析处理方法,属于超声无损检测技术领域。先获得优质时频图像,再时频图像缺陷信息提取,最后缺陷信息的A型显示。本发明共由三个技术步骤组成,因此简称为“三步法”。该方法具有更强的小缺陷发现能力和更好的信噪比增强效果,且克服了分离谱技术的参数敏感性问题,比传统的分离谱技术具有更强的缺陷发现能力,可以检测粗晶材料中更微小的缺陷,具有非常好的信噪比增强效果,且由于摒弃了分离谱技术的非线性统计处理,避免了分离谱技术的参数敏感性问题,在航空航天、核工业、石油化工等大量应用粗晶材料的重要部门具有广阔的应用前景。
声明:
“粗晶材料超声检测时频分析处理方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)