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大高宽比微结构的光学检测方法

799   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:58:07
本发明公开了一种大高宽比微结构的光学检测方法,通过观察不同微结构对入射光的不同反射情况,无损检测微结构的侧壁形貌,快速地判断大高宽比微结构是否发生倾斜、扭曲。本发明可以对光刻胶和金属微结构的侧壁形貌进行无损检测,也可以对光刻胶与金属共存的微结构侧壁形貌进行无损检测。本发明中采集的是高衬度的图像,结合样品工作台的快速扫描,可以实现对大尺寸样品的快速检测。本发明可以对工艺过程中的样品进行检测,能够实现样品的原位工况检测。本发明中侧壁倾角检测精度与选择的物镜相关,物镜的放大倍数越高可以提供越高的侧壁倾角检测精度,通常的,可以实现0.1°的侧壁倾角检测精度。
声明:
“大高宽比微结构的光学检测方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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