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基于斜入射超声合成孔径聚焦的厚壁结构缺陷检测方法

915   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:58:07
一种基于斜入射超声合成孔径聚焦的厚壁结构缺陷检测方法,属于无损检测技术领域。该方法采用一套包括相控阵超声探伤仪、相控阵超声探头和倾斜有机玻璃楔块的超声检测系统,利用相控阵电子扫查功能对厚壁结构试块进行检测,获得各相控阵阵元的A扫信号集合。利用费马定理求解各相控阵阵元与图像重建点在楔块/试块界面处的出射点位置,并对各A扫信号进行时间延迟和幅值叠加处理。对处理后的A扫信号进行希尔伯特变换,利用差值函数获得重建后的超声检测B扫图像。该方法的缺陷检测分辨力高,检测范围大,可提高检测效率,为厚壁结构缺陷的无损检测问题提供有效解决方法。该方法还可嵌入到探伤仪中,实现自动实时成像,具有较高的工程应用价值。
声明:
“基于斜入射超声合成孔径聚焦的厚壁结构缺陷检测方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
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