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利用光学照度计无损快速鉴定全粉质、蜡质玉米种质的方法

1007   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:58:04
一种利用光学照度计无损快速鉴定全粉质、蜡质玉米种质的方法,属于玉米种质的鉴定方法技术领域,所述的方法是将种子胚乳朝上放置于照度计的光学测定点上,采用微型固定白光源,从上方紧贴果皮照射种子胚乳,记录照度计上光强读数,根据光源透过种子胚乳的光强强度判断种子是否为全粉质种子,如果透过种子胚乳的光强强度小于5lux,则该种子为全粉质糯玉米,如果透过种子胚乳的光强强度大于100lux,则该种子为腊质糯玉米。该方法根据不同结构淀粉的光学特性鉴定全粉质、蜡质糯玉米种质,该方法可辅助加快全粉质、蜡质糯玉米自交系的培育与鉴定,以及全粉质、蜡质糯玉米新品种的选育,具有很好的应用前景。
声明:
“利用光学照度计无损快速鉴定全粉质、蜡质玉米种质的方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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