本发明涉及光学材料,属于光学材料加工领域。一种无损寻找石英晶体光轴方向的方法,首先向石英晶体入射红外光,测定反射光频率;然后调整入射红外光频率,使之在850cm
‑1~750cm
‑1范围扫描;然后360度范围内调整石英晶体的方向,直至反射光谱由双峰转换为单峰,即确定入射红外光与反射红外光之间的中线方向即为光轴方向。该方法能够迅速确定晶体的光轴方向。同时相比于现有光学打磨肉眼识别技术,本技术能够适用于各种表面形貌的石英晶体,而且无需对样品进行处理,所有样品均可上机测试。与当前国内外同类技术相比,本方法效率高、成本低、无毒环保、操作方便,突破了传统的方法,且适用于大小不同、表明形貌各异的石英样品。
声明:
“无损寻找石英晶体光轴方向的方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)