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基于扩展有限元法的多缺陷群无损识别方法

895   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:58:04
本发明公开了一种基于扩展有限元法的多缺陷群无损识别方法,由正分析和反分析组成。扩展有限元法计算网格独立于结构内部的不连续面,因此缺陷几何变化时无需重构计算网格,故扩展有限元法用于正分析,以节约时间。反分析由三步组成:(i)以稀疏的测点确定包含缺陷群的子域,缩小搜索域;(ii)在子域内添加测点,对缺陷群进行逐个识别以确定群内缺陷的大致位置与大小;(iii)以第二部的结果作为初始解,加速收敛至缺陷的真实形态。本发明能在缺陷数量未知的前提下对多缺陷群进行准确识别,且能显著地减少测点用量和迭代次数。
声明:
“基于扩展有限元法的多缺陷群无损识别方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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