本发明提供了一种肖特基二极管抗辐照能力无损筛选方法及装置,方法包括:获取辐照前作为随机子样的肖特基二极管的反向漏电流、反向击穿电压和噪声电压功率谱幅值;获取经过辐照后的作为随机子样的肖特基二极管的反向漏电流;计算辐照前后的反向漏电流退化量;以反向击穿电压和噪声电压功率谱幅值作为信息参数,以反向漏电流退化量作为辐照性能参数,建立多元线性回归方程,估计线性回归方程中的系数向量;建立无损筛选回归预测方程;利用所述无损筛选回归预测方程,预测单个器件的抗辐照性能。本发明能够实现在对肖特基二极管无损坏的前提下,进行对元器件准确、高效的抗辐照能力的测试筛选。
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