合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 无损检测技术

> 基于高光谱成像技术的苹果表面缺陷快速无损识别方法

基于高光谱成像技术的苹果表面缺陷快速无损识别方法

641   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:58:03
本发明公开了一种基于高光谱成像技术的苹果表面缺陷快速无损识别方法,该方法包括以下步骤:收集完好无损和表面有缺陷苹果样本随机分配,建立校正样本集和检验样本集;利用高光谱图像采集系统采集校正和检验样本集苹果样本的高光谱图像;对高光谱图像进行黑白校正,并通过掩膜处理以消除背景,使图像中仅含苹果。然后,分别提取苹果正常区域以及表面有缺陷区域的平均光谱,并采用多元散射校正(MSC)对原始光谱进行预处理,得到校正和检验样本集光谱数据。最后,利用偏最小二乘判别分析方法结合化学计量学,建立苹果表面缺陷的识别模型。本发明通过高光谱成像技术可快速、无损地识别出表面有缺陷的苹果。
声明:
“基于高光谱成像技术的苹果表面缺陷快速无损识别方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
无损检测
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

2024退役新能源器件循环利用技术交流会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记