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GPGPU芯片无损Extest Mode测试方法

830   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:58:00
本发明提供一种GPGPU芯片无损Extest Mode测试方法,基于GPGPU芯片的设计特点,根据顶层芯片的逻辑连接关系,把GPGPU芯片的设计分为计算逻辑模块和余下的SOC模块,从而分成两个Extest Mode分组:一组包含计算逻辑模块以及与之相连的SOC模块,另外一组包含所有的SOC模块。在此基础上,每组均控制所有的扫描链输入信号,根据GPGPU芯片提供的所有输入输出管脚数量,再次分组直到观测完所有的扫描链输出信号,对运算内存的需求大大降低,同时没有损失任何测试覆盖率。
声明:
“GPGPU芯片无损Extest Mode测试方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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