合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 无损检测技术

> 多缺陷材料M积分的无损测量方法

多缺陷材料M积分的无损测量方法

579   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:57:59
本发明公开了一种多缺陷材料M积分的无损测量方法,通过数字散斑相关技术,利用光学测量设备ARAMIS?4M(GOM?mbh)测得试件表面的位移场;通过均值滤波器对位移场进行平滑处理,并利用三次样条拟合求得位移场沿两个坐标轴的梯度;通过材料本构方程,计算材料表面应力场及应变能密度分布;代入M积分的定义表达式,选取包含缺陷的任意闭合路径,通过数值积分计算M积分值。该方法适用于各种不同的缺陷及缺陷群,可用于评估航天、航空、机械等领域各种形式的材料损伤与结构完整性。
声明:
“多缺陷材料M积分的无损测量方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
无损检测
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

第二届关键基础材料模拟、制备与评价技术交流会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记