本发明公开了一种多缺陷材料M积分的无损测量方法,通过数字散斑相关技术,利用光学测量设备ARAMIS?4M(GOM?mbh)测得试件表面的位移场;通过均值滤波器对位移场进行平滑处理,并利用三次样条拟合求得位移场沿两个坐标轴的梯度;通过材料本构方程,计算材料表面应力场及应变能密度分布;代入M积分的定义表达式,选取包含缺陷的任意闭合路径,通过数值积分计算M积分值。该方法适用于各种不同的缺陷及缺陷群,可用于评估航天、航空、机械等领域各种形式的材料损伤与结构完整性。
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