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无损、快速TSV结构侧壁形貌测量方法

839   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:57:59
本发明公开了一种无损、快速的TSV结构侧壁形貌测量方法,包括如下步骤:利用高分辨率IR显微镜,调节聚焦深度,选取多个焦平面;选定其中一焦平面,并针对该焦平面所获得的图像,获得圆心的位置;计算边缘轮廓到圆心的距离,获得该焦平面图像的边缘到圆心的距离分布;改变焦平面位置,重复步骤三,计算出每一个焦平面图像的边缘到圆心的距离分布,获得在同一个旋转角度下,边缘在深度方向到圆心的距离分布;结合步骤五所得的计算结果,得到TSV结构侧壁的三维形貌分布;通过统计计算,获得TSV结构侧壁的形貌测量。
声明:
“无损、快速TSV结构侧壁形貌测量方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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