本发明公开了一种无损、快速的TSV结构侧壁形貌测量方法,包括如下步骤:利用高分辨率IR显微镜,调节聚焦深度,选取多个焦平面;选定其中一焦平面,并针对该焦平面所获得的图像,获得圆心的位置;计算边缘轮廓到圆心的距离,获得该焦平面图像的边缘到圆心的距离分布;改变焦平面位置,重复步骤三,计算出每一个焦平面图像的边缘到圆心的距离分布,获得在同一个旋转角度下,边缘在深度方向到圆心的距离分布;结合步骤五所得的计算结果,得到TSV结构侧壁的三维形貌分布;通过统计计算,获得TSV结构侧壁的形貌测量。
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