合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 无损检测技术

> 平面叶片面积无损测量系统及其方法

平面叶片面积无损测量系统及其方法

1041   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:57:59
本发明涉及平面面积测量技术领域,特别是一种使用单幅图像,进行平面叶片面积无损测量的系统及其方法。系统包括:图像采集单元,图像校正单元,叶片图像分割单元,叶片面积计算单元。方法包括:通过图像采集单元得到附着在标定板上的平面叶片图像;图像校正单元根据图像和标定板上的同名点,计算出图像上的像素和实际物体的射影对应关系,并且对图像进行正射校正;叶片图像分割单元将叶片的图像从背景中分离出来;叶片面积计算单元根据射影对应关系,计算出正射校正后的叶片图像的面积。
声明:
“平面叶片面积无损测量系统及其方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
无损检测
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

第二届中国微细粒矿物选矿技术大会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记