本发明提供一种基于DIC的薄壁结构屈曲强度无损探针测量方法,包括:在试件表面制作散斑;对试件进行轴压试验,并通过相机拍摄系统对试件进行图像采集,获取图像信息;分析所述图像信息,得到试件在轴压试验中的变形规律,并根据所述变形规律获取初始缺陷位置;对试件施加轴向载荷,并通过探针在试件的初始缺陷位置施加径向扰动;根据探针的最大压力值与轴向载荷组成的数据进行二次拟合,预测试件的极限承载压力。本发明实现了对薄壁圆柱壳的无损检测,提高了对薄壁圆柱壳缺陷敏感性测量的准确性,且避免了圆柱壳的损耗,节约了成本。
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