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基于高光谱的苹果冲击后损伤参数的无损预测方法

778   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:57:58
本发明提供一种基于高光谱的苹果冲击后损伤参数的无损预测方法,包括以下步骤,获取样品跌落损伤的平均压强和接触力;获取样品的高光谱图像;对高光谱图像进行黑白校正,提取校正后高光谱图像损伤区域的平均光谱;获取平均光谱的特征波长;建立高光谱数据与损伤参数的预测模型。本发明的有益效果是实现果品力学参数的预测,量化果品的损伤程度,可以为评估果品的机械损伤提供重要依据,相对于传统的人工感官检测及计算相关参数的方法,可以节省时间,提高效率,能实现快速、无损评估与预测,对果品市场的产业发展有重要意义。
声明:
“基于高光谱的苹果冲击后损伤参数的无损预测方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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