合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 无损检测技术

> 基于高光谱的苹果冲击后损伤参数的无损预测方法

基于高光谱的苹果冲击后损伤参数的无损预测方法

792   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:57:58
本发明提供一种基于高光谱的苹果冲击后损伤参数的无损预测方法,包括以下步骤,获取样品跌落损伤的平均压强和接触力;获取样品的高光谱图像;对高光谱图像进行黑白校正,提取校正后高光谱图像损伤区域的平均光谱;获取平均光谱的特征波长;建立高光谱数据与损伤参数的预测模型。本发明的有益效果是实现果品力学参数的预测,量化果品的损伤程度,可以为评估果品的机械损伤提供重要依据,相对于传统的人工感官检测及计算相关参数的方法,可以节省时间,提高效率,能实现快速、无损评估与预测,对果品市场的产业发展有重要意义。
声明:
“基于高光谱的苹果冲击后损伤参数的无损预测方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
无损检测
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

第二届中国微细粒矿物选矿技术大会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记