本发明涉及零件、机器部件和机械装置、各种材料的无损检验方法和设备,具体涉及基于光学全息干涉技术无损测定残余应力的方法和设备。首先,记录初始状态下物体检测区域的全息图。然后,通过将物体表面暴露在矩形高电流脉冲下,实现检测区域的检测点中的残余应力释放。最后,制作物体的严格相同区域中的干涉图。由干涉图中的条纹形状及尺寸确定检测区域的残余应力。
声明:
“用光学全息干涉技术对物体中残余应力进行实时无损测定的方法与设备” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)