本实用新型涉及一种用于超声波无损检测的便携式校核试块,所述校核试块近似呈梯形体,所述梯形体包括上底面、下底面、左斜面、右斜面、前端面和后端面,所述上底面平行于下底面且长度小于下底面,所述上底面与左斜面的内夹角为160°,所述上底面与右斜面的内夹角为150°,所述下底面与左斜面通过左过渡面过渡连接,所述下底面与右斜面通过右过渡面过渡连接,所述左过渡面、右过渡面均垂直于下底面;所述校核试块上设有从前端面垂直贯穿至后端面的圆孔;所述校核试块上设有刻度。本实用新型的优点在于:加工方面简单;试块体积小巧;将CSK‑IA和CSK‑IIA两块试块的部分功能集中设计在一块试块上,满足现场校核需要。
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