本发明公开了一种基于能谱的3D打印无损检测方法,其特征在于,将X射线能谱处理得到离散的若干个能量的光子,且光子的能量分别为I
a‑I
n,光子穿过物体后剩下的能量分别为I
1‑I
m,则
u
i为衰减系数,l
i为X射线穿过物体的长度。原有技术只能仿真单能X射线的正投数据,与设备上实际采集的结果差距较大。本发明可以仿真多能X射线的正投数据,得到的结果更接近设备采集的结果,为科研和研究算法提供有力的工具。
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我是此专利(论文)的发明人(作者)