本实用新型公开了一种中子无损检测装置,包括中子发射源、底座、屏蔽盖、中子成像探测器,底座上侧面为样品放置区,底座中间设有安装中子发射源的腔体,所述的腔体贯穿底座的上侧设置,所述的屏蔽盖设在底座上侧,屏蔽盖可在上下方向进行位置的调节,所述的中子成像探测器设置在屏蔽盖的上侧;所述的屏蔽盖为上小下大的锥形管体结构,还包括屏蔽管,所述的屏蔽管竖直设置在屏蔽盖内,屏蔽管的上端与屏蔽盖的上端开口处连接,屏蔽管为可上下伸缩设置,所述的屏蔽盖的内侧壁上设有反射调节板,反射调节板的下端与屏蔽盖铰接连接,屏蔽盖上设有螺纹孔,所述的螺纹孔上连接有调节螺杆,所述的调节螺杆与反射调节板的上端连接。
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