本实用新型公开了一种扫描样品无损检测多极激励场发生装置,激励线圈的磁芯采用4片具有高磁导率的坡莫合金(1J85)叶片对接制成,每只叶片为U型,夹角为90°,所述叶片包括底边、竖边和横边,底边和竖边相互垂直,横边与竖边的夹角为120°~160°,4片横边的顶端之间间隔适当距离;所述叶片之间相互绝缘,叶片的底边和竖边上缠绕有
漆包线,相邻两个叶片的上的漆包线缠绕方向相反。本实用新型采用四极激发线圈代替双D型线圈,能够测量较深的缺陷,并且还具有如下优点:①场随空间衰减更快,所以噪声小;②在SQUID器件处更易平衡;③只需要一个磁强计(省去了梯度计)即可,使器件工艺大大简化。
声明:
“扫描样品无损检测多极激励场发生装置” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)