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硅抛光片或外延片层错及位错缺陷的无损检测装置及方法

1052   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:57:56
本发明涉及硅片检测技术领域,公开了硅抛光片或外延片层错及位错缺陷的无损检测装置,包括筒体,筒体通过三个隔板对称设有三个放置区,且三个隔板呈均匀分布设置,三个隔板相背离一侧的侧壁均与筒体的内壁固定连接设置,筒体内壁的中心处固定连接有圆筒,且圆筒的侧壁分别与三个隔板的侧壁固定连接设置,圆筒内还设有放料机构,筒体的底部对称固定连接有四个支撑脚,放料机构包括放置盒、套筒和活动杆,放置盒的底部开设有多个通孔,套筒位于圆筒内设置,圆筒的内壁对称开设有三个凹槽。本发明能够便于对硅片与各个溶液进行反应,同时提高了反应的效果,提高了工作效率,便于人们的使用。
声明:
“硅抛光片或外延片层错及位错缺陷的无损检测装置及方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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