本发明公开一种导磁材料无损实时检测方法和系统,该方法通过巨磁阻传感器采集被磁化后导磁材料的信号,将采集到的信号与现有技术中导磁材料无缺陷状态下的正常值以及内部出现缺陷时磁阻变化的典型值进行比对,来判断导磁材料当前位置内部磁场的流动及缺陷处的磁场扩散状态。该方法采用的系统包括N组GMR传感器
芯片组、下位机控制模块、磁化装置、报警装置、数据采集与处理模块和上位机。其中磁化装置实现对导磁材料的磁化和退磁,传感器芯片组用于感应导磁材料的磁阻变化,数据采集与处理模块对传感器芯片组采集到的模拟信号进行处理后与典型值和理想值进行比对。该方法检测成本低,能够对奇异件进行有效检测,且不会对人体构成威胁。
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