本发明公开了一种热栅格扫描热波无损薄膜厚度检测方法,本发明沿直线匀速移动所述栅格热源,且栅格热源的移动轨迹平行于薄膜所在平面,并通过热像仪记录薄膜表面温度信号;通过数据处理系统分析步骤二得到的温度信号,拟合出薄膜表面各点温度信号的幅值和相位;针对所测材料的属性,预先标定其幅值和相位随厚度变化的规律;通过对比薄膜表面热波信号的幅值和相位,根据标定好的厚度规律,拟合得到薄膜的厚度及厚度分布。本发明采用空间分布的稳态热波对薄膜厚度进行检测,而不是采用热波瞬态响应信号,因此对热像仪的采样频率要求极低,对信号灵敏度要求也极低。
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