本发明公开了一种基于高光谱的叶片无损检测装置,包括光源、物镜或者透镜、位移台、滤波片,聚焦透镜、成像光谱仪,待测样品放置在所述的位移台上,光源发出的光依次通过物镜或者透镜、位移台、待测样品,待测样品辐射的光通过滤波片,聚焦透镜进入成像光谱仪中。本发明利用光源照明样品,利用位移平台实现对样品的扫描,成像光谱仪采集样品辐射的光谱信号,可以快速地得到样品的光谱和空间位置信息。本发明采用了主动照明的方式,系统的信噪比较高,可以用来实现物体的定量检测。
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