本实用新型涉及检测技术领域,公开了一种集无损探伤检测和电子元件点料为一体的设备,包括固定机架,所述固定机架内部固定连接载物台滑轨,所述载物台滑轨顶部活动连接平板检测器,所述平板检测器顶部固定连接有载物台和载物台移动电机,所述固定机架左侧内壁固定连接直线滑轨,所述直线滑轨上下两端均固定连接有丝杠固定座,所述直线滑轨顶部固定连接有Z轴电机,所述Z轴电机底部设置有联轴器,所述Z轴丝杠右端活动连接有X光发射器。本实用新型中,当对物料进行探伤时,将物料放入载物台上表面,通过X光发射器发射X光,对物料进行照射,同时Z轴电机工作带动Z轴丝杠旋转,使X光发射器沿着直线滑轨上下移动,对物料进行探伤操作。
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