本发明涉及一种识别异形制件变截面区域缺陷的超声无损检测方法,包括:将超声换能器沿制件轴向放置于制件检测面,并与制件检测面贴合,其中所述超声换能器由平行于制件轴向间隔预定距离串行排布的2n个晶片组成,n为≥3的整数,其中制件变截面区域被所述2n个晶片中的至少一些晶片完全覆盖;沿制件轴向进行扫查,通过脉冲信号激发晶片产生超声波,所有2n个晶片同时接收反射声信号并转换为电信号,计算整合电信号并进行成像,根据成像结果确定变截面区域缺陷的特征。本发明的可以准确且快速的识别变截面过渡区缺陷,避免了声束折射带来的干扰。
声明:
“识别异形制件变截面区域缺陷的超声无损检测方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)