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珍珠珠层厚度的无损检测方法

678   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:57:53
本发明公开了一种珍珠珠层厚度的无损检测方法,包括:利用X射线放射源逐一照射两个待测物体,得到两个初始图像;依据像素点的灰度值,判断一个像素点是否为边界点,从而从初始图像中识别出待测物体图像的所有的边界点;对于标准球体,利用识别出的边界点拟合成一个圆,并以该圆的半径为标准球体图像的半径R0;对于待测珍珠,利用识别出的边界点拟合成三个同心圆,其中,以位于中心的一个圆的半径为珠核图像的半径R2,以位于最外侧的一个圆的半径为待测珍珠图像的半径R1;待测珍珠的半径为r1=μR1,珠核的半径为r2=μR2,则珠层厚度为r=r1-r2,其中,比例系数μ=r0/R0,r0为标准球体的半径。本发明实现了珠层厚度的计算,测量结果更为准确。
声明:
“珍珠珠层厚度的无损检测方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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