本发明公开了一种利用能谱分析无损检测试样膜厚的方法,利用不同成分的膜层在加速电子轰击下,会激发不同特征X射线的原理,对标块进行加速电子轰击,制定出膜层特征元素与膜厚之间的对应关系标准曲线,然后分析对待测试样进行加速电子轰击后得出的X射线的强度与频率,得到元素的含量,对比标准曲线,计算出膜层厚度。本发明仅采用常见的扫描电子显微镜和能谱仪,无需额外的检测特制辅助设备和配件投入,成本低且操作简单,适用于纳米及微米范围内,无机非金属、高分子和金属各类膜层,同时适用于单层、双层和三层复合膜层的膜厚检测,适用范围广,且不会对样品造成损坏。
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