本发明涉及一种氮化硅陶瓷球超声波无损检测方法,包括以下步骤:1)设定超声波探头的检测深度,该检测深度为距氮化硅陶瓷球表面的深度,该检测深度小于等于氮化硅陶瓷球的半径,设定氮化硅陶瓷球上单次扫描区域的大小,用超声波探头对氮化硅陶瓷球的所述扫描区域进行单次C扫描;2)转动氮化硅陶瓷球,用所述超声波探头对氮化硅陶瓷球进行多次C扫描,直至对氮化硅陶瓷球各处均进行C扫描,结合C扫描的图像检测氮化硅陶瓷球中所述检测深度范围内的质量。通过设定超声波探头的检测深度,能够对氮化硅陶瓷球设定深度的区域进行C扫描,从而检测该深度范围内的质量。
声明:
“氮化硅陶瓷球超声波无损检测方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)