本发明公开了一种超声无损检测缺陷位置回溯方法,其包括以下步骤:对工件进行超声波扫描,并对扫描轨迹路径进行位置编码,得到扫描信号数据和编码位置数据;根据扫描信号数据和编码位置数据生成图像;在图像上找出缺陷位置并选取,获取所选图像区域中心对应的编码位置;根据所选图像区域中心对应的编码位置,回溯至工件实际对应的缺陷位置处。本发明可以在无损检测的过程中先对工件进行整体扫描,整体扫描虽然耗时长,但是全程可以无专业人员参与,而当扫描完成后,再找出缺陷位置,然后根据缺陷位置对应的编码位置,在扫描后也可来到工件的缺陷位置点上,再进行标识、修复或者复检等操作,从而有利于提高检测效率和降低成本。
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