本发明提供一种利用热声技术无损在位检测低密度材料缺陷的方法,包括下述步骤:采用脉冲微波由波导口入射到待测材料样品中,激发待测材料产生热声信号;涂有耦合剂的声探测器贴于材料表面,在微波发生器同向接收产生的热声信号;热声信号经过信号放大器放大后,采集并显示数据,采集的数据传输并储存到计算机中;利用计算机控制的步进电机驱动声探测器扫描,全方位接收信号;对采集的数据进行处理,得到待测材料样品的热声图像。一种实现上述方法的装置,包括微波发生组件、旋转扫描组件、声信号采集组件、计算机组件等。本发明克服了传统技术无法检测低密度材料缺陷的困难,具有定位准确,分辨率高的优点。本发明的装置造价较为低廉,易于推广。
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