微小区域残余应力的无损检测方法,涉及一种测 量方法。现有残余应力测量方法存在耗时长、需要应用高角度 衍射峰的缺点。本发明方法为,利用 XRD2设备对待测残余应力的样 品测量后获得XRD2面探图谱, 然后对所得图谱进行处理,得到相应一组(hkl)衍射峰的衍射角 (2θ)随着德拜环张角(x)变化的数据 {xl,2θ l},最后用线性函数拟合数据得 到相应的直线,由拟合得到直线的斜率与残余应力之间的关 系,即可计算出所测量样品该微小区域的残余应力。本发明方 法不仅可以实现材料微小区域残余应力的测量,而且可以快速 地得到满足精度要求的结果,另外,利用设备可调节X射线有 效穿透深度的特点,可获得残余应力沿表面法线方向的分布, 利于推广应用。
声明:
“微小区域残余应力的无损检测方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)