一种SERS拉曼
芯片单色透过光强定标无损质检方法与设备,所述方法是,采用单色光源透过光强(HSP)间接表征定标样品拉曼峰高(HRS)的“HSP~HRS”定标无损质检测技术:一,选一组不同灵敏度定标拉曼芯片,在紫外可见光源的消光透过光谱曲线中,找出消光光谱‑SPR主峰峰位、‑SPR次峰峰位、‑与SPR效应敏感的其它适用单色光的峰位;或通过数值模拟找出上述三类峰位;二,在所述三类峰位中优选其一,相继检测所述定标拉曼芯片组的单色光源的HSP和HRS;三,创建“HSP~HRS”定标曲线;四,在所述单色透过光强HSP~HRS定标设备上,实施所述拉曼芯片无损检测,解决SERS拉曼芯片灵敏度质量无损检测问题。
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