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SERS拉曼芯片灵敏度用单色透过光强定标无损检测方法与设备

799   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:57:42
一种SERS拉曼芯片单色透过光强定标无损质检方法与设备,所述方法是,采用单色光源透过光强(HSP)间接表征定标样品拉曼峰高(HRS)的“HSP~HRS”定标无损质检测技术:一,选一组不同灵敏度定标拉曼芯片,在紫外可见光源的消光透过光谱曲线中,找出消光光谱‑SPR主峰峰位、‑SPR次峰峰位、‑与SPR效应敏感的其它适用单色光的峰位;或通过数值模拟找出上述三类峰位;二,在所述三类峰位中优选其一,相继检测所述定标拉曼芯片组的单色光源的HSP和HRS;三,创建“HSP~HRS”定标曲线;四,在所述单色透过光强HSP~HRS定标设备上,实施所述拉曼芯片无损检测,解决SERS拉曼芯片灵敏度质量无损检测问题。
声明:
“SERS拉曼芯片灵敏度用单色透过光强定标无损检测方法与设备” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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