合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 无损检测技术

> 无损检测导电氧化物薄膜电学性能的方法

无损检测导电氧化物薄膜电学性能的方法

1053   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:57:42
本发明的目的在于提供一种快速、无损检测导电氧化物薄膜电学性能的方法,首先利用激光拉曼(Raman)光谱仪测定导电氧化物薄膜的特定光谱,将特定光谱进行定量,定量方法可对拉曼的E2high,AM和LO三种信号进行准确定量与区分,进而间接解决了该三类信号对应的本征缺陷或非本征缺陷结构难以定量的难题;接着将光谱定量数据与霍尔测试仪实际测到的电学数据进行比对分析,得出对应关系;最后根据对应关系,就可以利用拉曼光谱仪这种无损检测手段,快速测量出导电氧化物薄膜的电学性能,在检测领域具有极大的应用前景。
声明:
“无损检测导电氧化物薄膜电学性能的方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
无损检测
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

第二届关键基础材料模拟、制备与评价技术交流会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记