本发明公开一种基于超声无损检测的缺陷定位定量检测方法,包括以下步骤:在待测试块进行直线B扫,获取包括n个A扫信号的B扫信号;将无缺陷参考信号和B扫信号归一化处理,获得缺陷回波信号;从缺陷回波信号中分别提取每个A扫信号中的缺陷纵波回波时刻;以第一个扫查位置为原点,扫查方向为x正向,待测试块内部垂直于待测试块表面方向为y正向,建立坐标系;根据扫查点坐标、缺陷纵波回波时刻以及纵波波速,得到缺陷位置与尺寸。本发明的结果可以直接输出缺陷的位置和尺寸,在坐标系中绘制出缺陷形貌,输出结果直观。本发明在直线B扫的数据基础之上,即可获取缺陷尺寸,相较通过C扫检测缺陷的方式,检测效率有明显的提升。
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