合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 化学分析技术

> 增加光刻胶在超晶格红外焦平面芯片上附着性的方法

增加光刻胶在超晶格红外焦平面芯片上附着性的方法

809   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:56:56
本发明公开了一种增加光刻胶在超晶格红外焦平面芯片上附着性的方法。本发明是在超晶格红外焦平面芯片上通过等离子体处理芯片表面,从而增加光刻胶在芯片表面的粘附性,尤其针对较小光刻图形制备时。在超晶格红外焦平面芯片光刻前,首先采用氧等离子体与芯片上残余的有机污染物发生化学反应,生成气态的CO、C02和H20,从而达到去除芯片表面残余有机污染物的目的,其次采用氩等离子体轻微轰击芯片表面,增加芯片表面粗糙度。氧等离子体和氩等离子体先后作用在超晶格红外焦平面芯片上,增加了后续光刻胶在超晶格红外焦平面芯片上附着性,提高了图形完整性,降低了超晶格红外焦平面探测器盲元率。
声明:
“增加光刻胶在超晶格红外焦平面芯片上附着性的方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
化学分析
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

第二届关键基础材料模拟、制备与评价技术交流会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记