本发明公开了一种绝缘子试片沿面闪络实验方法,试片包括对照试片和实验试片,试片的结构相同,实验试片的数量为两个以上,实验方法的具体步骤为:步骤a:将实验试片分别浸没于各自的化学清洗剂中,各个实验试片的浸没时间逐渐增加;步骤b:配制人工污秽并利用人工污秽对试片进行涂污,涂污后,各个试片的盐密相等,各个试片的灰密相等;步骤c:利用测试装置得到并记录各个试片的闪络电压和试片发生闪络时的泄漏电流。和现有技术相比,本发明提供的绝缘子试片沿面闪络实验方法可以简化操作且实验精度较高。
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