本实用新型公开了一种基于微机电系统的垂直探针,包括探针主体,所述探针主体包括第一端部、第二端部,以及位于第一端部、第二端部之间,分别与第一端部、第二端部相连的弹性连接部,所述第一端部、第二端部、弹性连接部为一体结构,所述弹性连接部与所述第二端部形成连续的半圆弧状结构,所述探针主体采用光化学蚀刻制作而成。本实用新型的垂直探针的尺寸误差较小,产品的一致性较好,从而避免了在测试过程中由于尺寸误差导致的测试误差。
声明:
“基于微机电系统的垂直探针” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)