提供在用于SAP法时可将不仅是镀覆电路密合性而且对化学镀铜的蚀刻性、及干膜分辨率也优异的表面轮廓赋予层叠体的表面处理铜箔。该表面处理铜箔在至少一侧具有处理表面。处理表面依据ISO25178所测定的峰顶点的算术平均曲率Spc为55mm
‑1以上,将树脂薄膜热压接于处理表面从而将处理表面的表面形状转印至树脂薄膜的表面,并通过蚀刻去除表面处理铜箔时,残留的树脂薄膜的表面的依据ISO25178所测定的峰顶点的算术平均曲率Spc为55mm
‑1以上。
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“表面处理铜箔、带载体铜箔、以及使用它们的覆铜层叠板及印刷电路板的制造方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
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