本发明属于辐照管道束流分布测量技术,具体涉及一种用核孔膜确定单粒子效应专用辐照管道束流分布的方法。该方法将经重离子束流辐照后的核孔膜进行化学蚀刻;确定管道束流的束斑大小尺寸;利用在光学显微镜上安装的摄像头采集蚀刻后的核孔膜的图像,将图像传送到安装有视频采集卡的计算机上;在束斑的大小范围内,通过网格区域的划分,依次存取每个单元格内的图像;统计每个单元格图像上的离子点数,确定束流的均匀性。该方法操作简单,实现成本低,测量效果完全满足抗单粒子效应性能评估试验的需要。
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