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带网状支撑框架的低应力微拉伸试样的制备方法

852   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:56:36
本发明公开一种薄膜测试技术领域的带网状支撑框架的低应力微拉伸试样的制备方法,步骤:在玻璃基片上旋甩光刻胶作为牺牲层并前烘,在牺牲层上溅射金属Ti层并做表面活化处理用作种子层,在种子层上进行甩胶、曝光、显影,根据掩模版设计的微拉伸试样层形状,实现其光刻胶结构的图形化;在表面活化的Ti层上电镀Cu-TSV试样层;在Cu-TSV镀层上进行支撑框架层的电化学沉积;最后去除光刻胶图形化层、Ti溅射层、牺牲层,得到独立的带有网状支撑框架的悬空Cu-TSV微拉伸试样。本发明制备的微拉伸试样有效降低了薄膜应力,结构简单,易于制备,成本低,实现了Cu-TSV薄膜的原位独立拉伸,有利于微拉伸精准测试。
声明:
“带网状支撑框架的低应力微拉伸试样的制备方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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