本发明公开一种标定光阱中微粒数量、尺寸的方法及装置,利用光阱稳定悬浮待测微粒,利用光电探测器收集微粒的散射光信号,多次重复捕获不同的微粒,记录每次的散射光光强,统计光功率的光强分布情况;微粒数量与散射光强存在一一对应关系,微粒数量越多,散射光强越大,根据光强分布情况,获取光阱捕获不同数量的微粒时对应的预期光强,从而对微粒数量进行标定。本发明的方法和装置能够实现原位测量,也无需限制为真空环境,并且采用了光学非接触式的方式获取光阱中捕获微粒的信息,无需改变微粒的物理和化学特性。
声明:
“标定光阱中微粒数量、尺寸的方法及装置” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)