本发明提供了一种MEMS器件及制备方法、电子装置。所述MEMS器件包括:基底;振动膜,位于所述基底的上方,其中,所述振动膜包括位于外侧的固定区域和位于中间的振动区域,所述固定区域中与所述振动区域相连接的部分呈锥形结构;背板,位于所述振动膜的上方;空腔,位于所述振动膜和所述背板之间。所述振动膜,不仅仅解决掉落测试(drop test)的振动膜(VP poly)破碎的问题。同时把振动膜的固定区域(VP anchor)安放在到基底上而不是氧化物(oxide)上面,解决BOE刻蚀的间隙底切问题(Gap under cut issue),同时也增大了BOE的工艺窗口,降低了
电化学效应影响(galvanic effect impact)。
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